渦流測厚儀探頭的原理基于電磁感應中的渦流效應?。

當探頭內的高頻線圈通入交變電流時，會產生交變磁場；

若金屬基體靠近該磁場，其表面會感應出渦流，渦流產生的反向磁場又會影響線圈的阻抗參數?。

通過測量線圈阻抗的變化量，可間接推算探頭與金屬基體之間的距離（即非導電覆層厚度）?

阻抗變化與信號反饋?

渦流產生的二次磁場會削弱原始線圈的磁場，導致線圈阻抗發生變化。通過檢測線圈阻抗的變化量，可間接推算線圈與金屬基體之間的距離，即覆層厚度?。

?調幅式?：通過檢波器測量線圈失諧后的電壓變化。

?調頻式?：通過檢測諧振頻率偏移量轉換為厚度信號。